CMIKOREA

XRF 도금 두께측정기

CMI 900 시스템은 다년간 고장 없이 정확한 측정을 제공할 목적으로 디자인 되었습니다. 이 장비는 도금두께, 물질 성분, 순금 함유량, 다츨도금두께측정, 혹은 도금액내의 금속 성분측정에 추천해드립니다.

CMI900은 사용하기 간편하고 한글프로그램에 의해 구동되는 장비를 제공해 드립니다.

* FP 프로그램
* XYZ 자동 프로그램에 의한 구동
* 3층 도금두께 측정 또는 15분석인자
* 다양한 모델
* 15년간 경험에 의한 높은 신뢰성

INDUSTRIES

* 표면처리산업
* PCB(PWB) 산업
* 항공기 및 선박산업
* 자동차 산업
* 반도체 전자 부품 산업

SPECIFICATION

* 작동 프로그램 : 한글 Microsoft Window 와 CMI FP
프로그램
* 50W X-ray tube (50KV, 1mA)
* Tube Target : W or MO
* 측정 범위 : Ti ~ U
* 측정 두께 : 0 ~ 100 micron (원자 번호에 따라 상이 함)
* Collimator : 최대 5개 장착 (사이즈 별도 문의)
* XYZ 프로그램에 의한 스테이지 이동
(마우스 조이스틱 기능)
* 제품 측정 스캐닝 기능 넓은 면적을 손쉽게 측정
* 3층 도금두께의 측정 및 15개 분석인자 측정
* 합금 도금 층의 분석 및 두께측정

Coating Measurement

Oxford Instruments는 Beta Backscatter, Eddy Current, Magnetic Induction, Microresistance와 Xray Fluorescence의 원리를 이용하는 모든 종류의 최품격 코팅 두께 측정 장비를 보유하고 있습니다.

카탈로그 다운로드

CMI 900 Series 카탈로그 - 202KB PDF